SUN196262 发表于 2021-4-8 08:49

GB4706.1中的19.11.2条款

GB4706.1中的19.11.2条款中第 e)条:”三端可控硅开关元件以二极管方式失效“。这句怎样理解?请大家指教!

okjun 发表于 2021-4-8 10:32

标准的意思是用一个二极管来替换掉可控硅。
但实际上,可控硅最常见的故障是内部完全短路。写标准的人不懂,仅以可控硅的符号来揣测可控硅内部发生故障后还剩一个二极管。
所以实际测试中,把可控硅直接短路更符合实际,不管是从测试的方便性、还是从可控硅的内部原理来看都更加合理。

okjun 发表于 2021-4-9 12:20

本帖最后由 okjun 于 2021-9-9 10:49 编辑

从可控硅故障的可能性来看,baicaizfl说的对,短路测试应该在19.11.2 d)考虑。但这并不是写标准的人的本意。在写标准的人的头脑里,可控硅属于集成电路,是被19.11.2 d)排除在外的。

可控硅的二极管模式失效是另一个故障测试,为了考虑更全面。
网上资料:
"对于电机来说,如果正负半波触发不对称,还会造成电机偏磁,电机发热,出力下降很多,因为偏磁相当给电机叠加了一个直流,产生一个刹车力,严重的会造成磁饱和,电机过流损坏。"
不知道说的是什么类型的电机。串激电机肯定不存在这个问题。

SUN196262 发表于 2021-4-9 08:30

明白了,非常感谢!

lds08080808 发表于 2021-4-10 12:53

借楼主好贴请教下高手,做芯片(IC1)元件失效,要怎样实现

小昕 发表于 2021-4-10 19:02

lds08080808 发表于 2021-4-10 12:53
借楼主好贴请教下高手,做芯片(IC1)元件失效,要怎样实现

IC1 Pin1-Pin 6 sc ,IC1 pin 2-pin 6 sc, IC1 pin 3-pin 6 sc , IC1 pin 4-pin 6 sc, 因pin 5,6,7,8是等电位,所以Pin 1-4分别跟这个等电位施加故障,不知道您问的是不是这个问题,希望能对您有用。

小昕 发表于 2021-4-10 19:06

简单粗暴的做法就是将Q管三个引脚两两短路,即(D-S),(D-G),(G-S)

okjun 发表于 2021-4-12 16:32

芯片(IC1)的作用是从高压直流转成低压直流,故障测试如下:
5-3,直接把高电压引到低压端。
5-1,目的同上
1-3,低压端两极短路
2-1,电流反馈失效

不涉及加强绝缘的元件故障,主要是依赖保险管来保护,绝大多数情况下没什么危害。

lds08080808 发表于 2021-4-12 18:54

okjun 发表于 2021-4-12 16:32
芯片(IC1)的作用是从高压直流转成低压直流,故障测试如下:
5-3,直接把高电压引到低压端。
5-1,目的 ...

非常感谢大神的指点,再请教下,要想将IC1 Disabled,是要短IC1的管脚(如是,是上面所述的那两个脚?),还是要短接其它元件。

jtt1471025811 发表于 2021-11-18 11:59

像各位大神学习
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