在GB4793中高完善性元器件,大家是着么理解的呢??
在GB4793中高完善性元器件,大家是着么理解的呢??,能否举个例子说明下什么情况下可以认为是高完善性元器件呢???? 我就来个抛砖引玉吧,开关至少要进行10000次循环动作的试验,通过这一试验的零部件被认为是高完善性元器件 ,能否在举些其他的例子说明下什么情况下可以认为是高完善性元器件呢???? 如果大家说的好,会有金币奖励的哦。。。。大家帮忙来说下吧 个人理解。。。。。。。。。。。。各方面都特别好的元件,近乎完美。 1. 通过认证的产品、且在额定范围内使用
2. 通过本标准的耐久性测试,及相关测试
3. 通过相关适合的标准测试,且在额定范围内使用 标准里是这样定义高完善性的:不易出现会引起危险险情的故障;高完善性的部件被认为是在进行故障条件下的试验时不易出现不合格。。。。对于这句话请问大家在实际工作中是这么认为的呢。。就可以认为这个元器件是高完善性的呢??? 见IECEE的CTL
http://www.iecee.org/ctl/ETF3Sheets/sheet-358.pdf 引用第6楼daisy_1208于2009-02-25 15:57发表的:
见IECEE的CTL
http://www.iecee.org/ctl/ETF3Sheets/sheet-358.pdf
请教下这位仁兄根据这篇文章的意思Y电容器只要符合IEC 60384-14,是不是可以认为是高完善性元器件呢?同样熔断器只要符合IEC60127,是不也是的呢??? 按CTL的意思好象是这样的哦,不知还有多少这种类似器件。 引用第8楼daisy_1208于2009-02-27 13:02发表的:
按CTL的意思好象是这样的哦,不知还有多少这种类似器件。
这分明是灌水的啊。。。。什么多没回答~~~~CTL这个规定对于Y电容要求是高完善性元件是可以理解,但要求熔断器要求高完善性,那就和标准中的单一故障有矛盾了,或者按照CTL的意思满足(IEC60127).那就是高完善性,就理解起来不和单一故障有矛盾
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