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高温加速系数的确定, y: k9 R! g; r' v
对一般电子产品而言，多用高热加速。根据加速模型（Arrhenius Model），加速因子的表达式为：3 J; B6 L% x8 X- @; b: p5 T
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}
/ B2 P. U0 a' o$ U上式中对湿度影响忽略，这样试验室配置要求与试验成本要低得多。) t% g! g4 Q% A% {
式中：
: `8 R* n6 E/ W, k- oEa：激活能，这里取值为1.0eV；
! M1 o& j ^) V P" b& g4 ]4 C" n% zk：玻尔兹曼常数，k=8.6*10E-5 eV/K；6 l4 Y( b2 ^; w+ h/ U/ j/ ~6 c+ ~* Y% M2 e
Tu：常态时的绝对温度，这里取值为30℃即303K，选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定；7 p; e; R' e0 j2 k. y, |: T
Ts：加速态时的绝对温度，这里取值为60℃即333K；. m& |' D, A1 K e
经计算，AF=31.72 x3 i: ?0 C8 x5 a5 e; L) z( {( s4 k0 \
所以加速条件下，MTTF取值为200000小时，总的测试时间为778000h/AF=24516h。
; w5 e- Q8 h& v: ~& w; Y. j- Q7 d若取30片进行试验，试验时间为24516h/30=817h=34天。
' Z" ?! J$ ] G/ o w5 K( H从上述计算结果表面上，MTTF取值为20万小时，取30片进行试验，常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年，出现失效的不超过1片，这对于预期的使用寿命周期内约二至三年，并且大部分时间处于低负载状态，这要求也比较合适。经高温加速后试验时间缩短为一个月，生产单位可接受。 |
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发表于 2008-7-24 15:53
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[s:79]
，那位兄弟给指点一下，偶们做的是适配器之类的。