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[信息产品] 60950中1.4.14故障和异常测试

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发表于 2015-11-6 14:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
1.4.14中的描述如下:
  b( c0 }/ s) o; S8 n5 w当设备某个单一故障时,这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。* O3 X9 B9 D; \5 s6 g
$ ^+ z. J( C6 v6 p* G
. G& h, K  A( G  A
基于此上有疑问如下:$ R1 C  }+ E& }: L
1 基本绝缘失效主要指那些?能否举例说明?
/ D! g% b- b' Y3 ~' V2 class I中的接地线的外层应该是基本绝缘,如果失效后,接地线很有可能直接跟初级危险带电体连接在一起。但每个故障后,需要对设备做耐压测试,这种情况下,L,N到地线之间的耐压测试肯定是fail的。这种情况下,怎么解释?5 O8 |1 U- w! l5 }" u# |8 }2 B

7 L/ z  a3 S$ H8 n% v1 |& D' d; U9 W. ^
望高手解释下。
5 \( `8 v" p# w2 ]/ _0 r+ Q3 x/ H" Y' M
: v+ E2 K' p1 @$ ]3 \; ]! Y
 楼主| 发表于 2015-11-6 15:30 | 显示全部楼层
没人解释下?
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发表于 2015-11-9 16:36 | 显示全部楼层
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;, h* V& [3 Y* O' q" f. ^
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.

点评

1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI; 起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧? 另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件  详情 回复 发表于 2015-11-10 18:53
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 楼主| 发表于 2015-11-10 18:53 | 显示全部楼层
microos 发表于 2015-11-9 16:36 4 r: G1 m2 c3 r8 y0 n
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;/ z& S3 @; H, h3 {4 r" q
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是 ...

; v$ ]% c- Y2 Z' M2 q1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;( c$ b& g0 M/ j! b
起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝缘失效吧?
9 i- O! i5 q9 @3 l& x# T6 A另外你说"BI+SI结构中的BI",这个故障包括任何绝缘(双重绝缘或是加强绝缘除外)或是任何元器件(具有双重绝缘或是加强绝缘除外)的失效。双重绝缘中的基本绝缘明确说了不失效。( E- S: I& o; W
2.PE线外层顶多是FI, 再说了这个接触带电体没没危险。地线唯一的故障就是OC.
9 J1 [0 r/ w/ ~8 a2.9.3中明确说了一次电路到接地的导电零部件之间要满足基本绝缘。至于说危险,肯定没有的。但针对标准的描述,怎么解释?

点评

1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。 2。PE到live parts满  详情 回复 发表于 2015-11-10 21:10
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发表于 2015-11-10 21:10 | 显示全部楼层
powerlg 发表于 2015-11-10 18:53 1 c0 z0 _; F8 ~: i
1.起BI的Y电容,BI+SI结构中的BI;
, t: }, a& G; |, W( I' d) M起BI的Y电容如果有相关认证且其距离满足标准要求,应该不需要做基本绝 ...
& P2 g) Y+ @) W& B- j
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重,需要对BI进行失效模拟以考验SI的绝缘强度。DI中的BI不失效,那为什么还有SI?看下定义。
& d" @, R' _, N9 p- `2。PE到live parts满足BI没错,并不意味着这个BI就通过PE的外层达到的,比如接地的metal enclosure与live parts。另外故障的测试你理解错了。

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感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.17和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。  详情 回复 发表于 2015-11-11 11:25
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 楼主| 发表于 2015-11-11 11:25 | 显示全部楼层
本帖最后由 powerlg 于 2015-11-12 13:38 编辑 1 e: [% C0 N# v$ L5 ~
microos 发表于 2015-11-10 21:10 ) K2 C" t! o( v% c$ m0 ^# P
1.Y电容有认证且满足Cr/Cl只能说明她满足BI的要求,BI并不是一定不会失效,对危险的防护一般都需要双重, ...

" I: X0 u4 y0 z# p; Q 感谢你的回复。不过觉得你的理解有偏差且有点跑题,自己又详细看了标准,我疑问的问题已经解决。建议看下clause 1.4.14和clause 2.7,相信看完会有些收获。再次感谢。
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发表于 2015-11-11 17:02 | 显示全部楼层
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???

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我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。  详情 回复 发表于 2015-11-12 13:41
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 楼主| 发表于 2015-11-12 13:41 | 显示全部楼层
sky0805 发表于 2015-11-11 17:02 ; `# N5 H/ d' l/ A1 N$ S! f
60950-1 1.4.14故障和异常测试怎麼找不到,請問法規是哪個版本呢???
1 D# j8 F1 P4 }- g8 p
我之前写错了。已经修改了clause 1.4.14,不是clause 1.4.17.是模拟故障和异常测试条件。

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謝謝您的回覆喔!!!  发表于 2015-11-12 17:47
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