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[INST] DSH 1035

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发表于 2017-1-7 10:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
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Question. L, I1 y9 l  Y! m& e/ I
In which way shall the temperature rise test be carried out on a device composed of two or more
! m8 l  H+ d! o" xswitches, having the same or different pattern number mounted on a common body?' ?5 D8 D! v5 x4 C# m
The construction is allowed in note 1 of sub-clause 7.1.1, but the testing conditions are interpretable
$ ]! f8 Z3 K* I( i$ n2 nin different ways in clause 17.1.
  n/ d4 M/ v  i& j7 G4 }3 C  gDecision% ]; J7 e, U4 O
The temperature rise test shall be performed separately on each individual switch on condition that it
* o- |7 E: o5 ]3 ]8 s! M6 A1 F( Eis a single-phase switch.  Q$ _4 u/ P  F8 S
0 D7 b% Y" G& a% m, n2 O

& G1 D$ l  I9 p2 _/ f  `0 ]% q( Y5 c: \. S' B, {
! i/ K4 M+ g( C, g
+ U) a+ J& ]# A

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