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[家电产品] 求助: inject current immunity

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发表于 2008-5-16 09:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大佬:4 M  i0 r- z1 a5 U  H3 s# e; f( K0 K) z
    我现在有个案子做EMC  inject current immunity fail了, 我不知道这个测试是针对什么地方进行的测试,是考量产品的什么性能,导致这个项目不合格的原因可能为什么?请各位不吝赐教!2 F  V% }. T5 ~0 z6 j7 A
它所依据的标准是EN 55014-2:1997+A1:2001 Reference: IEC 61000-4-6:1996+A1:2000& [9 {4 m6 n& W6 T
PS:产品为空调
发表于 2008-5-16 10:13 | 显示全部楼层
這是在電源輸入加上雜波造成干擾,一般情況而言,必須對電源輸入加上 filter, 如 X2 capacitor.
0 Z' ?7 p7 p4 o1 A3 n& q亦可能要在電路控制部份之直流電源加大電容(高/低頻)或加 ferrite bead 以増強抗干擾能力
 楼主| 发表于 2008-5-16 10:28 | 显示全部楼层
恩,我这款产品在30-40MHz时就over了,导致系统紊乱,状态(制冷,制热,除湿,通风)不断切换,但并未死机,当取消干扰信号时,其记忆功能紊乱,状态依然不断切换,像此中现象,大致为何原因导致,不知道wongyatwah 是否有整改案例?
& x6 ]% W$ |( ?0 R" `1 O请赐教!!
发表于 2008-5-16 10:53 | 显示全部楼层
你的產是否有 MCU 內有 FLASH RAM, 經常要讀入外來參數,記錄在 FLASH RAM 中,而且由這些參數決定如何下一步調控?
 楼主| 发表于 2008-5-16 11:07 | 显示全部楼层
引用第3楼wongyatwah于2008-05-16 10:53发表的  :
/ ~2 B) o$ s& U$ r2 O你的產是否有 MCU 內有 FLASH RAM, 經常要讀入外來參數,記錄在 FLASH RAM 中,而且由這些參數決定如何下一步調控?
的确在MCU内有flash ram,您是讲需要参照纪录的参数进行调控?
发表于 2008-5-16 11:31 | 显示全部楼层
是! 因為很多PID control 調控需要取大量數據來計算,這些數據會存在flash ram內,( ~, Q( y- X( ]9 \
如果取數受到干扰而錯誤,即使 MCU 沒有死机,亦因數據錯誤而錯判!! u6 ^% a* e3 m( _5 j1 G' u
但電源不穩或讀入參數(可以是溫度)之路線受到干扰也可以做成讀數錯誤!
发表于 2008-5-19 08:41 | 显示全部楼层
楼主的测试端口是电源端口吗?1 k3 C. i: d8 n. T" W
EMI方面要没有问题?
 楼主| 发表于 2008-5-26 10:00 | 显示全部楼层
谢谢,各位大佬,这个问题已经搞定啦~! 换了个模块,就O啦,产品设计有缺陷~  
$ a3 F3 \/ A6 C- r% B. u6 `+ ?: w技术把我害苦了!
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