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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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发表于 2021-11-29 15:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
* x- `! d; C- P7 x1 {5 \              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
6 U7 g) a! d( ]+ K, n" q6 n
& U; V7 J: v9 E  `2 z& A1 x) {% f4 v0 M8 W) P5 Q% R

: H1 w+ i6 p: {& a8 Y  o  i18.1 Dielectric voltage-withstand
/ N0 P/ _1 T, v  g9 A18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
5 w0 c  A% i$ T+ j7 H6 f* z18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied
: O8 O' E7 i' Z" |# A3 \: ~between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
* J2 Y7 I2 i" J0 t2 d' Q4 ~relamping.) \2 N1 n0 n! X6 K$ C  P& a
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice9 @+ N+ m) L' m, p( S2 O* ]1 G
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
- ~# o! j& Q# D1.414 times the AC potential denoted above.
1 _7 L( `4 k: J  J" O! E18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required& q( [  w+ b* h# ?( B! U
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the" J& ]* q+ i6 z, k: H
ON position.+ k0 ~. {+ Q0 ^
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or8 u" k# e9 P8 L) E2 q
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.. K# B/ s1 Z( ?
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
$ ]" d* D& n7 ^: S6 }6 O. i8 b7 j; Fbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
2 k; G# Y# _% l& c  k8 |" Brearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
. \: W& {3 d: o4 Iretaining the representative dielectric stress on the circuit.
, A3 b5 X8 b' R8 `1 U/ V8 @5 O9 [2 a9 u: c0 N
发表于 2021-12-3 16:20 | 显示全部楼层
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 显示全部楼层
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:205 U6 D2 S- p: {3 A9 C/ Z' P) L1 R
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

+ @; y: \. ]0 i0 N' A' h4 @2 d哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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发表于 2021-12-29 08:14 | 显示全部楼层
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
! V$ ?  F5 r4 o; D# T注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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发表于 2021-12-29 08:27 | 显示全部楼层
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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发表于 2022-1-4 13:24 | 显示全部楼层
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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发表于 2022-5-12 15:30 | 显示全部楼层
正好需要,学习了
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发表于 2024-10-23 10:16 | 显示全部楼层
学习了,学习了
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