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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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发表于 2021-11-29 15:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,  _) `7 r2 b8 U# l* M5 ?
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了): R) |% _0 x! G2 b' q
: o3 Z' Z* ~  R$ e) Y5 h) c

, W: N& U# C1 A$ Q; q* z+ I$ e# G
18.1 Dielectric voltage-withstand
! I# n  U4 G' U4 G: L. Z5 c6 n% W18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
# I6 ^' X3 H" h/ _7 E18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied! _- b& G* G' y/ Y. E
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
8 N( X) i1 n& _/ I8 E. {, R! frelamping.
9 ~+ I9 ]0 R' ]18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice) \9 X: \. H- X8 q
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at# I; C5 {9 D' M7 l0 o2 n4 k# D/ f
1.414 times the AC potential denoted above.
+ Q- l+ G# V6 u) k18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
# X: N# H$ g: h1 w. Z2 `5 I. htest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the
! }# f  g0 @& _4 oON position.3 ^3 {% Y/ x1 |; ^- R# x; N
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or2 x+ |. j! W$ g' |2 ~
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
1 k% n# l( b  Z. O18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
2 ]% b! `% Z- ~) v. cbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be* l- Z" O! A- f0 e
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while9 {$ W; o5 y( q6 Z0 b
retaining the representative dielectric stress on the circuit.3 b- e% S* r2 E

) C" `- ?# m, q+ Z7 @. E
发表于 2021-12-3 16:20 | 显示全部楼层
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 显示全部楼层
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
7 B) c5 o( G) X! h" Z不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
. e7 e: m: i6 D' B* z, t
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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发表于 2021-12-29 08:14 | 显示全部楼层
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。5 U7 ^/ e  W( V: Q
注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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发表于 2021-12-29 08:27 | 显示全部楼层
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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发表于 2022-1-4 13:24 | 显示全部楼层
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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发表于 2022-5-12 15:30 | 显示全部楼层
正好需要,学习了
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发表于 2024-10-23 10:16 | 显示全部楼层
学习了,学习了
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