求助(IEC 60335-1 １９章电子失效的实际操作方法)

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如何对MOS 做IEC 60335-1 A2 cl 19.11.2 g)的测试？
) v3 L- }; U, S
$ \7 H) f7 |1 k
节示标准如下：
) ]8 c, f9 W2 Q6 @$ e
19.11.2 g) failure of an electronic power switching device in a partial turn-on mode with loss of gate (base) control. During this test, winding temperatures shall no exceed the values give in 19.7.
/ B( v7 s) _3 ^+ t$ J
- Q0 S9 F4 D$ b4 T7 ANOTE 3 This mode may be simulated by disconnecting the electronic power switching device gate (base) terminal and connecting an external adjustable power supply between the gate (base ) terminal and the source (emitter) terminal of the electronic power switching device. The power supply is then varied so as to achieve a current that will not damage the electronic power switching device but give the most onerous conditions of test.


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标准的意思:
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将MOS管的栅级断开再外加电源为MOS管供电，目的是要模拟出既要MOS不烧坏又要出现发热的最严酷的情况。标准上只是说了个原则上是：既要MOS不烧坏又要出现发热的最严酷的情况.
  e* S+ X+ g1 k7 |1 ^$ ]3 K! `, p* ^
但是实际操作比较困难!
+ U+ w8 ]  Q* ^, q: E! E9 {
那位大佬有没有比较好的办法分享一下?　谢谢!