关于光耦的异常测试

zhuzifei · 发表于 2010-8-9 11:42

不仅要做短路还要做开路

5821331 · 发表于 2010-8-9 16:23

一般要做次级两脚之间短路和任一脚开路，初级高压端一般不需要做

安规浩子 · 发表于 2010-8-9 20:30

是否可以这样理解：
短路是模拟这样的情况：1、Pin脚之间的功能绝缘被击穿或者短接；2、由于光耦的本质是一端为发光二极管，另一端为光敏的二极管，所以会存在PN结被击穿的情况形成短路。 1和2均很可能在同边的Pin之间发生，所以就只短路同侧的PIN。

开路模拟的是元器件的焊接不良或者是松脱。但是针对在开关电源当中光耦一般是用于反馈电路，所以进行初级开路即可模拟到最恶劣的情况，就不必进行初级的开路了。

豆浆油条 · 发表于 2010-8-16 15:34

我不同意楼上的观点,开路也是要测试的
光藕故障分别是;初级短路,次级短路,初级开路,次级开路
初次级之间不需要测试

ericlau4190 · 发表于 2010-8-30 22:08

同意12楼对光耦的异常评估方式，还有一个问题：为什么不对光耦的初级与次之间做短路，应该是因为光耦的初级与次级之间能够满足加强绝缘的要求，再者，光耦的内部有起加强绝缘的绝缘片。

daxiaoabc · 发表于 2010-8-30 22:22

看见过UL的光耦非正常测试，但没明白过来，具体应该测哪几个内容，当时，都测的，为什么，不太明白。

reborn · 发表于 2010-8-30 23:05

同意二楼

powerlg · 发表于 2010-9-1 15:27

看过了。谢谢大家了，明白了。

人淡如菊 · 发表于 2010-9-1 15:46

光耦在一般的电路里起反馈作用，原件失效，必须要做其短路，开路测试。

liaojy2004 · 发表于 2010-9-2 08:57

强顶二楼！！！！！！！！！！

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