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引用第4楼zylyr于2011-04-12 13:22发表的 :3 t2 Q, s, r; U) z& S& T
这个问题,我也遇到过,不过在最近的VDE审厂中找到了答案, VDE 认为,HI-POT是一项破坏性的检验,不能让每个产品在未出厂是就受到太大程度的破坏,出于对产品的保护,对于基本绝缘只要求1000V 1S.
9 i0 l) N% ~3 X; z$ t* C) i' Q真是这样吗? R# T" s- y) X3 C! U3 ^) {( H
为何以前出厂试验1s的试验电压要高于型式试验1min的电压,难道那时没有考虑这个问题?
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为何美标(UL标准)许多产品现在依然是如上规定(例:1s的试验电压为1200+2.4Vn;60s的试验电压是1000+2Vn)?
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如果说“HI-POT是一项破坏性的检验”,出于对产品的保护,那就不要打。打(压)又不能打到“位”,那么试验的作用何在? |
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