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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。* G4 d. w) t! l' t7 c4 l3 O
设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。3 ~7 S" u) M8 I; |8 p
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。( \: R: P' R1 C
根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?, ~; F8 t% o+ f- Y! n
我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。
$ H) ?* `5 `2 UL-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证); p' w6 w% w7 J$ i. z1 x
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)
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4 q2 g+ `8 Z) U6 u' m以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!
# P* q, ~+ @. J: W2 j( C; t8 m我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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