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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。/ Y6 G+ a0 b* w# }$ g1 g, k: |
设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。9 H; W1 s8 w# B% a# h
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。
% n$ X1 S" B4 O根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?
b* K' I C) _+ v1 Z我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。
# m- w+ ~9 V& q1 ^& t$ U+ r# Y! ?L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)- ~& Y( t, P! c8 G
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)% L7 K& Q* Y0 X5 U( t" F0 C6 s8 B
: A4 ~9 x- c$ u) H* Z以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!; w! A% o# g9 f* k- D2 b- A
我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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